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用一定能量的光子激发半导体材料,由其产生的特征发光谱线来分析半导体材料性能的一种光...利用光致发光扫描技术，可监视某个已能识别的杂质所产生的特征光谱线，可以显示出样品表面上掺杂的不均匀性，称为光致发光谱的准三维图。从激发与发射之间的光致 ...
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